Possibilities and Limits of Digital Industrial Radiology: The new high contrast sensitivity technique - Examples and system theoretical analysis

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Autor*innen:Uwe ZscherpelORCiD, Uwe Ewert, K. Bavendiek
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):DIR 2007 - International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography (Proceedings)
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Verlagsort:Lyon, France
Ausgabe/Heft:(Vortrag V1)
Erste Seite:1
Letzte Seite:17
Freie Schlagwörter:Basic spatial resolution; Computed Radiography (CR) with imaging plates; Contrast sensitivity; Digital detector arrays; Digital radiography; Film replacement; High contrast sensitivity technique; Image quality; NDT film systems; Signal/noise ratio
Veranstaltung:DIR 2007 - International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography
Veranstaltungsort:Lyon, France
Beginndatum der Veranstaltung:2007-06-25
Enddatum der Veranstaltung:2007-06-27
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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