Possibilities and limits of digital industrial radiology: The new high contrast sensitivity technique - Examples and system theoretical analysis
Metadaten| Autor*innen: | Uwe ZscherpelORCiD |
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| Koautor*innen: | Uwe Ewert, K. Bavendiek |
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| Dokumenttyp: | Vortrag |
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| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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| Sprache: | Deutsch |
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| Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | DIR 2007, International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography |
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| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2007 |
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| Veranstaltung: | DIR 2007, International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography |
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| Veranstaltungsort: | Lyon, France |
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| Beginndatum der Veranstaltung: | 2007-06-25 |
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| Enddatum der Veranstaltung: | 2007-06-27 |
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| Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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| Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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| Referierte Publikation: | Nein |
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| Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen): | Nein |
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