Synchrotron radiation induced X-ray photoelectron emission microscopy (SR-XPEEM) with abberation corrected energy filtering
| Autor*innen: | O. Renault |
|---|---|
| Koautor*innen: | L. F. Zagonel, A. Bailly, J. Charlier, J. Leroy, J. Criginski Cezar, N. Brookes, Mathias Senoner, J. Maul, T. Berg, F. Schertz, G. Schönhense, N. Barrett |
| Dokumenttyp: | Vortrag |
| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
| Sprache: | Deutsch |
| Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | AVS 54th International Symposium |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2007 |
| Veranstaltung: | AVS 54th International Symposium |
| Veranstaltungsort: | Seattle, WA, USA |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 2007-10-14 |
| Enddatum der Veranstaltung: | 2007-10-19 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
| Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
| Referierte Publikation: | Nein |
| Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen): | Nein |

