Synchrotron radiation induced X-ray photoelectron emission microscopy (SR-XPEEM) with abberation corrected energy filtering

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Autor*innen:O. Renault
Koautor*innen:L. F. Zagonel, A. Bailly, J. Charlier, J. Leroy, J. Criginski Cezar, N. Brookes, Mathias Senoner, J. Maul, T. Berg, F. Schertz, G. Schönhense, N. Barrett
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):AVS 54th International Symposium
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Veranstaltung:AVS 54th International Symposium
Veranstaltungsort:Seattle, WA, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2007-10-14
Enddatum der Veranstaltung:2007-10-19
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen):Nein
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