Comparison of conventional and total reflection excitation geometry for fluorescence X-ray absorption spectroscopy on droplet samples

  • X-ray absorption fine structure (XAFS) experiments in fluorescence mode have been performed in total reflection excitation geometry and conventional 45°/45° excitation/detection geometry for comparison. The experimental results have shown that XAFS measurements are feasible under normal total reflection X-ray fluorescence (TXRF) conditions, i.e. on droplet samples, with excitation in grazing incidence and using a TXRF experimental chamber. The application of the total reflection excitation geometry for XAFS measurements increases the sensitivity compared to the conventional geometry leading to lower accessible concentration ranges. However, XAFS under total reflection excitation condition fails for highly concentrated samples because of the self-absorption effect.

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Autor*innen:Oliver Hahn, G. Falkenberg, G. Pepponi, C. Streli, P. Wobrauscheck
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Spectrochimica acta B
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Jahrgang/Band:58
Ausgabe/Heft:12
Erste Seite:2239
Letzte Seite:2244
Veranstaltung:9th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence analysis and Related Methods
Veranstaltungsort:Funchal, Portugal
Beginndatum der Veranstaltung:2002-09-08
Enddatum der Veranstaltung:2002-09-13
DOI:10.1016/j.sab.2003.06.006
ISSN:0584-8547
ISSN:0038-6987
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:ZS 15B
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:10.03.2003
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