Proficiency testing of instruments - a key element for quality assurance in X-ray powder diffraction, Part 1: Matching the effort to the actual needs

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Autor*innen:Burkhard Peplinski, Klaus-Jürgen Wenzel
Persönliche Herausgeber*innen:R. Delhez
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the sixth European powder diffraction conference
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Herausgeber (Institution):EPDIC
Verlag:Trans Tech Publ.
Verlagsort:Uetikon-Zürich
Erste Seite:144
Letzte Seite:149
Freie Schlagwörter:Intensity correction functions (ICF´s); Performance testing; Proficiency testing; Quality assurance; Rietveld analysis; Theta-compensating slits; Variable slits
Veranstaltung:6th European Powder Diffraction Conference
Veranstaltungsort:Budapest, Hungary
Beginndatum der Veranstaltung:1998-08-22
Enddatum der Veranstaltung:1998-08-25
ISSN:0255-5476
ISBN:0-87849-847-8
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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