Surface analysis of plasma-deposited polymer films by Time of Flight Static Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SSIMS) before and after exposure to ambient air

  • Pulsed plasma deposited styrene and ethylene films were studied by Time of Flight Static Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SSIMS) before and after exposure to ambient air. The influence of the external plasma parameters on the secondary ion mass spectra of plasma deposited films was investigated. Approaches for the interpretation of SSIMS spectra of organic materials were reviewed and applied to the evaluation of SSIMS data of plasma deposited films. From these data, information on the chemical character of the plasma deposited films was derived. When the plasma polymers are exposed to air oxygen incorporation occurs. The oxygen uptake is high at the beginning and then it levels of. A relation that “higher the regularity of the film lower is the oxygen uptake” was found. Harder plasma conditions, which could be obtained by applying higher plasma power or lower monomer flow rate, result in higher oxygen uptake and vice versa.

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Umut Oran, Sufal Swaraj, Jörg Florian Friedrich, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Surface and coatings technology
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Verlag:Elsevier Science
Verlagsort:Lausanne
Jahrgang/Band:200
Ausgabe/Heft:1-4
Erste Seite:463
Letzte Seite:467
Freie Schlagwörter:Ageing; Plasma polymerization; Polyethylene (PE); Polystyrene (PS); SIMS
DOI:10.1016/j.surfcoat.2005.02.032
ISSN:0257-8972
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:31.10.2005
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.