X-Ray Refraction Topography for Non-Destructive Evaluation of Advanced Materials

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Manfred P. Hentschel, Karl-Wolfram Harbich, Axel Lange, Jörg Schors
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Technical paper / Society of manufacturing engineers
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Verlag:Society of Manufacturing Engineers
Verlagsort:Dearborn, Mich.
Erste Seite:1
Letzte Seite:7
Freie Schlagwörter:Crack Density; Fibre Debonding; Pore Size; SAXS; Topography; X-Ray Refraction
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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