Grundlagen der Oberflächenanalysenverfahren AES/SAM, ESCA (XPS), SIMS und ISS im Vergleich zur Röntgenmikroanalyse und deren Anwendung in der Materialprüfung

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Autor*innen:Harald Hantsche
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Microscopica acta : journal of microscopic equipment, methods and applications
Jahr der Erstveröffentlichung:1983
Verlag:Hirzel
Verlagsort:Stuttgart
Jahrgang/Band:87
Ausgabe/Heft:7
Erste Seite:97
Letzte Seite:128
ISSN:0044-376x
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:ZM 54/30:1983/212
Datum der Freischaltung:31.12.2015
Referierte Publikation:Nein
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