Grundlagen der Oberflächenanalysenverfahren AES/SAM, ESCA (XPS), SIMS und ISS im Vergleich zur Röntgenmikroanalyse und deren Anwendung in der Materialprüfung
MetadatenAutor*innen: | Harald Hantsche |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Microscopica acta : journal of microscopic equipment, methods and applications |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1983 |
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Verlag: | Hirzel |
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Verlagsort: | Stuttgart |
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Jahrgang/Band: | 87 |
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Ausgabe/Heft: | 7 |
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Erste Seite: | 97 |
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Letzte Seite: | 128 |
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ISSN: | 0044-376x |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | ZM 54/30:1983/212 |
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Datum der Freischaltung: | 31.12.2015 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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