Surface Plasmon Enhanced Total Internat Reflection Ellipsometry for Detection and Monitoring of Hazardous Gases
MetadatenAutor*innen: | Alida Nooke |
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Weitere Person: | Hannes Krüger, Andreas HertwigORCiD, Andreas Krause, Uwe Beck, Volkmar Lohse |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE V) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
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Veranstaltung: | International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE V) |
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Veranstaltungsort: | Albany, NY, USA |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2010-05-23 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2010-05-28 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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