Scanning Probe Microscopy Techniques for the Examination of Nanomechanics - a study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness
MetadatenAutor*innen: | Heinz SturmORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
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Veranstaltung: | Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII |
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Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 1998-10-08 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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