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Microstructure characterization of materials using X-ray refraction techniques

  • X-ray refraction is an excellent tool for the characterization of the microstructure of materials. However, there are only a few (synchrotron) laboratories in the world that use this technique for material characterisation. Therefore, the seminar will first explain the basic principles of X-ray refraction and the measurement techniques installed at the hard X-ray beamline BAMline at BESSY II (Berlin, Germany). This is followed by examples of investigations on fibre-reinforced plastic composites (CFRP) as well as ceramic (Cordierite, ZrO2-SiO2) and metallic materials (Ti-6Al-4V, Inconel). Some of the investigations were carried out both ex-situ and in-situ under mechanical and thermal load. The results are correlated with the mechanical properties of the materials.

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD
Koautor*innen:Andreas Kupsch, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Analyzer-Based Imaging; BAMline; X-ray refraction
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Veranstaltung:LNLS Users Group Seminar Series
Veranstaltungsort:Campinas, Brasil
Beginndatum der Veranstaltung:25.10.2022
Enddatum der Veranstaltung:25.10.2022
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:27.10.2022
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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