Microstructure characterization of materials using X-ray refraction techniques
- X-ray refraction is an excellent tool for the characterization of the microstructure of materials. However, there are only a few (synchrotron) laboratories in the world that use this technique for material characterisation. Therefore, the seminar will first explain the basic principles of X-ray refraction and the measurement techniques installed at the hard X-ray beamline BAMline at BESSY II (Berlin, Germany). This is followed by examples of investigations on fibre-reinforced plastic composites (CFRP) as well as ceramic (Cordierite, ZrO2-SiO2) and metallic materials (Ti-6Al-4V, Inconel). Some of the investigations were carried out both ex-situ and in-situ under mechanical and thermal load. The results are correlated with the mechanical properties of the materials.
Autor*innen: | Bernd R. MüllerORCiD |
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Koautor*innen: | Andreas Kupsch, Giovanni Bruno |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2022 |
Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Analyzer-Based Imaging; BAMline; X-ray refraction |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Veranstaltung: | LNLS Users Group Seminar Series |
Veranstaltungsort: | Campinas, Brasil |
Beginndatum der Veranstaltung: | 25.10.2022 |
Enddatum der Veranstaltung: | 25.10.2022 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 27.10.2022 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |