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Dislocation structures after creep in an Al-3.85 %Mg alloy studied using EBSD-KAM technique

  • The electron backscatter diffraction (EBSD) technique is used to investigate the dislocation structures formed after steady-state creep deformation of an Al-3.85%Mg alloy. This material is crept at two different stress levels, corresponding to the so-called power-law and power-law breakdown regimes. The results show that, regardless of the creep stress level, the strain tends to localize, leading to the formation of intragranular bands. The thickness of such bands is larger when the material is tested at loads corresponding to the power-law breakdown. This suggests enhanced diffusion by dislocation pipes.

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Autor*innen:Itziar Serrano MunozORCiD, R. Fernández, Romeo Saliwan-Neumann, G. González-Doncel, Giovanni BrunoORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Materials Letters
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
Verlag:Elsevier B.V.
Jahrgang/Band:337
Aufsatznummer:133978
Erste Seite:1
Letzte Seite:4
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Al-3.85%Mg alloy; Denoising filter; Electron backscatter diffraction (EBSD); Power-law breakdown; Steady-state creep
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Degradation von Werkstoffen
DOI:10.1016/j.matlet.2023.133978
ISSN:0167-577X
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:06.02.2023
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:12.06.2023
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