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STEM-in-SEM <i>versus</i> SE-InLens-type-SEM as a Reliable Analytical Pair-Tool for Measurement of Nanoparticle Size and Shape Distribution

  • Following points are addressed in this contribution: Advantages of correlative analysis in electron microscopy; Measurement principle of the different electron microscopy modes used; Presentation of the nanomaterials used for this study; Role of sample preparation; and, with particular description, the Sequence kV-variation with InLens SE & transmission SEM detection of the same field-of-view.

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  • SalzmannEtAl_MaM2024_NPkVVar_published.pdf
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Autor*innen:Christoph Salzmann, Francesco Pellegrino, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and Microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2024
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Verlag:Oxford University Press (OUP)
Jahrgang/Band:30
Ausgabe/Heft:Supplement_1
Erste Seite:650
Letzte Seite:651
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Electron microscopy; Metrology; Nanoparticles; Particle size distribution
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
DOI:10.1093/mam/ozae044.308
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:18.09.2024
Referierte Publikation:Nein
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