STEM-in-SEM <i>versus</i> SE-InLens-type-SEM as a Reliable Analytical Pair-Tool for Measurement of Nanoparticle Size and Shape Distribution
- Following points are addressed in this contribution: Advantages of correlative analysis in electron microscopy; Measurement principle of the different electron microscopy modes used; Presentation of the nanomaterials used for this study; Role of sample preparation; and, with particular description, the Sequence kV-variation with InLens SE & transmission SEM detection of the same field-of-view.
Autor*innen: | Christoph Salzmann, Francesco Pellegrino, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy and Microanalysis |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2024 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
Verlag: | Oxford University Press (OUP) |
Jahrgang/Band: | 30 |
Ausgabe/Heft: | Supplement_1 |
Erste Seite: | 650 |
Letzte Seite: | 651 |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Electron microscopy; Metrology; Nanoparticles; Particle size distribution |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
DOI: | 10.1093/mam/ozae044.308 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 18.09.2024 |
Referierte Publikation: | Nein |