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Editorial: Tribology and Atomic Force Microscopy - Towards Single Asperity Contact

  • The concept behind this Research Topic (RT) was to collect works, in which Atomic Force Microscopy (AFM) techniques are employed to study tribological phenomena and to push the resolution of measurements towards single asperity contact. Thanks to the direct determination of sample height with sub-nanometer resolution and the possibility of measuring local friction, AFM can be employed after a tribotest to detect topography and friction changes at the nanometer scale. Recently, efforts are being expended to use AFM cantilevers as tribometers, i.e., as probes altering the volume of suitable samples, thereby measuring tip and/or sample wear and friction at the nano/microscale. Thus, single asperity contact, friction, and wear can be investigated. Since friction and wear at the macroscale are the result of asperities interactions, such experiments are of great importance for better understanding of tribological processes.

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Metadaten
Autor*innen:Brunero Cappella, Dirk SpaltmannORCiD, M. Gee
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Frontiers in Mechanical Engineering
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:9 Komponentensicherheit
9 Komponentensicherheit / 9.5 Tribologie und Verschleißschutz
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:Frontiers Media
Verlagsort:Lausanne
Jahrgang/Band:8
Aufsatznummer:853934
Erste Seite:1
Letzte Seite:2
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:AFM; Friction; Nanotribology; Single asperity; Wear
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
DOI:10.3389/fmech.2022.853934
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-571037
ISSN:2297-3079
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:09.03.2023
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:09.03.2023
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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