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XPS of GR2M

  • The activities of ISO-G-Scope are presented. The influence of the sample preparation and the results of XPS/HAXPES measurements are discussed.

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Autor*innen:Jörg RadnikORCiD
Koautor*innen:Vasile-Dan Hodoroaba, B.P. Reed, A. Pollard, C. Clifford, Giovanni Chemello
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Graphene related materials; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; Sample preparation; X-ray photoelectron spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Nano
Veranstaltung:Graphene Workshop @ ISO TC 229 Meeting
Veranstaltungsort:Teddington, UK
Beginndatum der Veranstaltung:16.11.2022
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:30.11.2022
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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