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The determination of residual stress

  • X-ray stress analysis on crystalline materials is based on the determination of elastic lattice strains. The strains described by the shift of peak positions are converted to stresses by the means of theory of elasticity. The development of the sin2ψ-method of X-ray stress analysis introduced an enormous progress in X-ray stress analysis during the last decades. This report outlines some important elements of X-ray physics and fundamentals of theory of elasticity. The Standard measuring procedure are described and special experimental differences to the common powder diffractometry are outlined.

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Autor*innen:Gert Nolze
Persönliche Herausgeber*innen:S. P. Sen Gupta, P. Chatterjee
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Powder diffraction : proceedings of the II International School on Powder Diffraction
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Verlag:Allied Publishers
Verlagsort:Kolkata, India
Erste Seite:77
Letzte Seite:83
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Residual stress; XRD
ISBN:81-7764-262-6
ISBN:9788177642629
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:01.11.2016
Referierte Publikation:Nein
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