Phase and amplitude patterns in DySEM mappings of vibrating microstructures
- We use a dynamic scanning electron microscope (DySEM) to analyze the movement of oscillating micromechanical structures. A dynamic secondary electron (SE) signal is recorded and correlated to the oscillatory excitation of scanning force microscope (SFM) cantilever by means of lock-in amplifiers. We show, how the relative phase of the oscillations modulate the resulting real part and phase pictures of the DySEM mapping. This can be used to obtain information about the underlying oscillatory dynamics. We apply the theory to the case of a cantilever in oscillation, driven at different flexural and torsional resonance modes. This is an extension of a recent work (Schr¨oter et al 2012 Nanotechnology 23 435501), where we reported on a general methodology to distinguish nonlinear features caused by the Imaging process from those caused by cantilever motion.
Autor*innen: | Maria-Astrid Schröter, Heinz SturmORCiD, M. Holschneider |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Nanotechnology |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2013 |
Herausgeber (Institution): | Nanotechnology |
Verlag: | IOP PUBLISHING LTD |
Verlagsort: | Bristol, UK |
Jahrgang/Band: | 24 |
Ausgabe/Heft: | 21 |
Erste Seite: | 215701-1 |
Letzte Seite: | 215701-10 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | DySEM; Vibration; mechanische Nichtlinearitäten DySEM; mechanical nonlinearity; vibration |
DOI: | doi:10.1088/0957-4484/24/21/215701 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 15.03.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 14.06.2016 |