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“Ultima Ratio”: Multi-scale, high-resolution 3D-FFT scattering pattern simulations

  • This talk highlights a proof-of-concept that demonstrates the ability to calculate high-resolution Fourier transforms. These can be combined with multi-scale modeling to simulate scattering over a wide range, from small-angle scattering to XRD and PDF.

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Autor*innen:Brian Richard PauwORCiD
Koautor*innen:Sofya Laskina, Aakash Ashok Naik, Glen Jacob Smales, Janine George
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.0 Abteilungsleitung und andere
6 Materialchemie / 6.5 Synthese und Streuverfahren nanostrukturierter Materialien
VP Vizepräsident
VP Vizepräsident / VP.1 eScience
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:3D; Fourier Transform; High resolution; Multi-scale; Simulation; X-ray scattering
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Nano
Veranstaltung:Shapespyer/MuSSIC launch workshop
Veranstaltungsort:Didcot, UK
Beginndatum der Veranstaltung:20.02.2023
Enddatum der Veranstaltung:21.02.2023
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:22.02.2023
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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