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Back scatter X-ray imaging with twisted slit collimator – quantitative simulation and comparison to experiments

  • X-ray backscatter imaging is a well-established NDT technique to inspect complex objects using only a single-sided access. We present a specially designed multi-slit scatter camera consisting of several twisted slits which are parallelly arranged in a metal block. The camera projects one image per slit to the digital detector array, where the images are overlaying each other. The aperture is corrected based on a deconvolution algorithm to focus the overlaying projections into a single representation of the object. In order to achieve high backscatter intensities from an object, it is necessary to optimize the parameters of the backscatter system by simulation.

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Autor*innen:Gerd-Rüdiger Jaenisch
Koautor*innen:Frank Wieder, Carsten Bellon, Uwe Ewert, Justus Vogel, Sanjeevareddy Kolkoori, Uwe Zscherpel
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Aperture focusing; Back scatter imaging; Computer simulation; Deconvolution
Veranstaltung:2017 Far East Forum on Nondestructive Evaluation & Testing
Veranstaltungsort:Xi`an, China
Beginndatum der Veranstaltung:21.06.2017
Enddatum der Veranstaltung:24.06.2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:22.09.2017
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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