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Multidimensional Methods for Industrial Quality Assurance
- The paper addresses the „Multidimensional Methods for Industrial Quality Assurance“ and the following points are discussed in more detail: thin film analysis, major trends regarding optical measuring methods.
Autor*innen: | Uwe Beck |
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Dokumenttyp: | Sonstiges |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Optische Analytik in the Capital Region Berlin-Brandenburg |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2015 |
Herausgeber (Institution): | Berlin Partner für Wirtschaft und Technologie GmbH |
Erste Seite: | 35 |
Letzte Seite: | 35 |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Ellipsometrie; Klassifizierungssystem; optische Konstanten Classification stem; Ellipsometry; Optical konstantyss |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 27.10.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |