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Measurement of the morphology of graphene related 2D materials as flakes

  • The presentation shows the results of the mini-interlaboratory comparison focused on the measurement of the morphology of graphene oxide flakes using scanning electron microscopy. In this work, a route for the sample preparation, SEM measurement and image analysis is proposed. The results of the image analysis, performed on 200+ flakes per sample, are presented by comparing the distributions of the size and shape descriptors calculated according to two different approaches. The influences of a different SEM measurement operator, analysis approach and analysis operator on the final size and shape distributions are highlighted.

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  • EMRS_Fall2023_Chemello_presentation.pdf
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Autor*innen:Giovanni Chemello
Koautor*innen:Jörg Radnik, Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:2D flakes; Graphene oxide; Image analysis; SEM
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:EMRS Fall 2023
Veranstaltungsort:Warsaw, Poland
Beginndatum der Veranstaltung:18.09.2023
Enddatum der Veranstaltung:21.09.2023
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:06.11.2023
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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