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Surface Analysis and Context of the New HAXPES@BAM

  • The Competence Centre nano@BAM is presenting a new X-ray Photoelectron Spectrometer – the HAXPES (XPS at hard energy) – for researching advanced materials at the nanoscale. With HAXPES detailed chemical information can now be gained not only from the first outermost nanometres of the sample surface, but also from deeper regions. Top international experts will share their knowledge and key findings on how to utilise HAXPES for exploring the surface of various advanced materials. Following the lectures, we will show you a short demo of the new instrument and answer your questions.

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Jörg RadnikORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:HAXPES; Nano@BAM; Surface Analysis; XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:Inauguration of the HAXPES@BAM - A new Hard-X-Ray Photoelectron Spectrometer
Veranstaltungsort:Online meeting
Beginndatum der Veranstaltung:25.01.2022
Enddatum der Veranstaltung:25.01.20222
URL:https://www.bam.de/Content/EN/Events/2022/2022-01-25-hapex.html
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:21.02.2022
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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