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Hochauflösende, schnelle Materialcharakterisierung - Zerstörungsfeie Prüfung mittels Röntgenrefraktion

  • Materialcharakterisierung von CFK-Werkstoffen mittels Röntgen-Refraktion

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD
Koautor*innen:Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:CFK; Faser-Matrix Enthaftung; Röntgen-Refraktion
Veranstaltung:CCeV-Veranstaltung 3er-AG
Veranstaltungsort:Augsburg
Beginndatum der Veranstaltung:04.03.2016
Enddatum der Veranstaltung:04.03.2016
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:18.04.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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