Topical issue: Ellipsometry
- Ellipsometry is a matured experimental method, whose roots reach back into the early phase of modern optics itself. It is often attributed to be invented by Paul Drude in the last decade of the 19th century, but similar techniques had already been applied for years before Drude started his work. With this Special Issue about ellipsometry and related techniques, we hope to bring more attention to this method and advance and propagate it to be used by a broader community.
Persönliche Herausgeber*innen: | R. Schmidt-Grund, C. Sturm, Andreas HertwigORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenheft (Herausgeberschaft für das komplette Heft) |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Advanced optical technologies |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2022 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
Verlag: | De Gruyter |
Verlagsort: | Berlin |
Jahrgang/Band: | 11 |
Ausgabe/Heft: | 3-4 |
Erste Seite: | 47 |
Letzte Seite: | 147 |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Advanced optics; Ellipsometry; Optical measurement technology; Spectroscopy; Surfaces; Thin films |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
URL: | https://www.degruyter.com/journal/key/aot/11/3-4/html#contents |
ISSN: | 2192-8584 |
ISSN: | 2192-8576 |
Zugehöriger Identifikator: | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/55467 |
Zugehöriger Identifikator: | https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-551026 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 12.08.2022 |
Referierte Publikation: | Nein |