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THz-TDS NDT applications for material and structure characterization of dielectrics

  • THz time domain spectroscopy (TDS) operates with short electromagnetic pulses. The sensitivity of the pulses to optical material property changes makes THz-TDS attractive for the detection of flaws in dielectric materials. Unfortunately, the X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the reconstruction quality.

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  • beckmann_optecbb_2017_11.pdf
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Metadaten
Autor*innen:Jörg Beckmann
Koautor*innen:Holger Spranger
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:THz Time Domain Spectroscopy; THz-SAFT
Veranstaltung:Berlin Terahertz Symposium
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:20.11.2017
Enddatum der Veranstaltung:20.11.2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:04.12.2017
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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