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High Speed X-ray Imaging and Spectroscopy with pnCCDs: XRF, XRD and PIXE measurements (and others)

  • For many years pnCCDs have been well known as X-ray detectors for spectroscopic imaging in many fields of science: X-Ray Fluorescence analysis (XRF), X-ray Diffraction (XRD) with light sources in large accelerator facilities as well as with laboratory light sources or with X-rays from celestial sources in X-ray astronomy. A brief introduction in GEXRF (Grazing Emission XRF) measurements with a laboratory laser produced plasma source will be given, PIXE (Particle Induced X-ray Emission) measurements and D2XRF (Double Dispersive X-Ray Fluorescence) and Slicing experiments with pnCCDs coupled to polycapillary optics performed at the BESSY synchrotron will be shown. Energy-dispersive Laue diffraction with ultra-hard X-rays for the analysis of defects in metals will conclude the overview of spectroscopic X-ray imaging measurements in the field of structure and dynamics of matter.

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Autor*innen:L. Strüder
Koautor*innen:P. Holl, R. Hartmann, D. Schlosser, J. Davis, J. Schmidt, M. Huth, D. Kolak, Martin RadtkeORCiD, S. Nowak, A. Renno, J. Grenzer, A. Abboud, U. Pietsch, H. Soltau
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:BAMline; PIXE; PnCCD; Synchrotron; XRD; XRF
Veranstaltung:Microscopy & Microanalysis 2016 Meeting
Veranstaltungsort:Columbus, Ohio, USA
Beginndatum der Veranstaltung:24.07.2016
Enddatum der Veranstaltung:28.07.2016
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:04.01.2017
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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