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Elektronenstrahl-Mikroanalyse (ESMA) an heterogenen Proben

  • Grundkenntnisse zum besseren Verständnis der Funktionsweise der Elektronenstrahl-Mikroanalyse (ESMA) werden präsentiert und anhand Beispielen diskutiert. Das physikalische Messprinzip von ESMA am REM, das Wechselwirkungs- und Informationsvolum und die Anregung der charakteristischen Röntgenlinien werden erklärt. Verschiedene potentielle Artefakte, wie z.B. Heterogenität der Probenzusammensetzung, Oberflächenbeschaffenheit der Probe und Linienüberlagerung werden eingeführt. Die physikalischen Grenzen der analytischen Methode werden spezifiziert.

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  • Hodoroaba_EPMA (09-01-2018).pdf
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Metadaten
Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:ESMA; Elementzusammensetzung; REM; REM/EDX
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:Industrietreffen im Forschungs- und Innovationszentrum (FIZ) der BMW Group
Veranstaltungsort:Munich, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:09.01.2018
Enddatum der Veranstaltung:09.01.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:12.01.2018
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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