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Computer Tomography used for inspection of critical Zones in AM parts

  • Overview on CT for AM, starting from the CT principle, the added value of CT in Additive Manufacturing (AM), examples of CT results on AM workpieces and conclusions.

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  • V-1858-18_CTforAM.pdf
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Autor*innen:Uwe ZscherpelORCiD
Koautor*innen:J. Lübbehüsen
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Added Value; Additive Manufacturing; Computed Tomographie
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:IIW Annual Assembly 2018, joint seminar on AM
Veranstaltungsort:Bali, Indonesia
Beginndatum der Veranstaltung:15.07.2018
Enddatum der Veranstaltung:18.07.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:11.02.2019
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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