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Software- and instrument development for characterization of nano-(C)RMs

  • This poster deals with improvements and characteriztion of small-angle scattering limitations, by looking at the trifecta of Data collection and uncertainty propagation, data analysis methodologies, and real-world tests. It is found that - with appropriate care and instrumentation - accuracies of 1% on mean nanomaterial sizes, and 10% on the size distribution width as well as the volume fraction can be achieved.

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Autor*innen:Brian Richard PauwORCiD
Koautor*innen:Ingo BreßlerORCiD, T. Snow, Andreas ThünemannORCiD
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.5 Synthese und Streuverfahren nanostrukturierter Materialien
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Data analysis; Data correction; Instrumentation; MAUS; Methodology; Small-angle scattering
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:BAM-PTB Workshop on Reference Nanomaterials
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:14.05.2018
Enddatum der Veranstaltung:15.05.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:01.10.2018
Referierte Publikation:Nein
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