Minimale Anforderungen an Referenzdaten anhand von Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik
- In dem Vortrag werden, anhand ausgewählten Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik (EDX und XPS), die minimalen Anforderungen an Referenzdaten für zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse (z.B. Partikelgrößenverteilung, Elementzusammensetzung) vorgestellt und diskutiert.
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Jörg RadnikORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2020 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Elektronenmikroskopie; Nanopartikel; Oberflächenanalytik; Referenzdaten; SOP; Standardarbeitsanweisung; Standardisierung |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | Workshop "Referenzdaten" |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 13.03.2020 |
Enddatum der Veranstaltung: | 13.03.2020 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 18.03.2020 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |