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THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials

  • X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the Image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the reconstruction quality.

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Autor*innen:Jörg Beckmann
Koautor*innen:Holger Spranger, Sylke Bär
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:SAFT; THz-time-domain spectroscopy; Tomography
Veranstaltung:42nd International Conference on Infrared, Millimeter and THz waves
Veranstaltungsort:Cancun, Mexico
Beginndatum der Veranstaltung:27.08.2017
Enddatum der Veranstaltung:01.09. 2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:21.09.2017
Referierte Publikation:Nein
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