Surface chemical analysis of engineered nanoparticles by means of transmission x-ray microscopy and mass spectrometry
- PTFE/PS core-shell-nanoparticles were characterised by STXM, T-SEM, and ToF-SIMS. Shell-thicknesses were calculated and compared. Preliminary results from ToF-SIMS showed the capabilities of this method.
Autor*innen: | Anja MüllerORCiD, Markus Schneider |
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Koautor*innen: | Thomas Heinrich |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | STXM; ToF-SIMS NEXAFS; Nanoparticles; SEM |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | BAM-BfR Seminar |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 15.02.2018 |
Bemerkung: | Geburtsname von Müller, Anja: Hermanns, A. - Birth name of Müller, Anja: Hermanns, A. |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 16.02.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |