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Quantitative chemichal depth-profiling by synchrotron-radiation-XPS

  • Synchrotron-radiation enables the adjustment of the XPS information depth and, thus, the visualization of depth profiles of the elemental composition within the first 10 nm of a surface. This project deals with the analysis of core-shell nanoparticles. It constitutes first steps towards a valid methodology for studying the surface chemistry of nanoparticles in a quantitative and accurate manner.

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Autor*innen:Anja MüllerORCiD
Koautor*innen:Andreas Lippitz, Jörg RadnikORCiD, Ilona Dörfel, K. Sparnacci, B. Ritter, E. Kemnitz, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Core@Shell Nanoparticles; Depth-profiling; Synchrotron; XPS
Veranstaltung:Eighth Joint BER II and BESSY II User Meeting
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:07.12.2016
Enddatum der Veranstaltung:09.12.2016
Bemerkung:
Geburtsname von Müller, Anja: Hermanns, A. -  Birth name of Müller, Anja: Hermanns, A.
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:22.12.2016
Referierte Publikation:Nein
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