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Evolution of interphase stress over a crack propagation plane as a function of stress relief heat treatments in a PBF‐LB/M AlSi10Mg alloy

  • AbstractIn this study, we compare the residual stress state in a laser powder bed fusion (PBF‐LB/M) AlSi10Mg alloy in the as‐built (AB) condition with that after two different heat treatments (265 °C for 1 h, HT1; and 300 °C for 2 h, HT2). The bulk residual stress (RS) is determined using synchrotron X‐ray diffraction (SXRD), and near‐surface profiles are determined using laboratory energy‐dispersive X‐ray diffraction (EDXRD). The EDXRD results do not reveal any notable difference between the conditions at a depth of 350 μm, suggesting that the machining process yields a comparable residual stress state in the near‐surface regions. On the other hand, the SXRD results show that HT1 is more effective in relieving the bulk RS. It is observed that HT1 reduces the RS state in both the aluminium matrix and the silicon network. In addtion, HT2 does not have a significant impact on relaxing the RS as‐built state of the matrix, although it does induce a reduction in the RS magnitudes of the SiAbstractIn this study, we compare the residual stress state in a laser powder bed fusion (PBF‐LB/M) AlSi10Mg alloy in the as‐built (AB) condition with that after two different heat treatments (265 °C for 1 h, HT1; and 300 °C for 2 h, HT2). The bulk residual stress (RS) is determined using synchrotron X‐ray diffraction (SXRD), and near‐surface profiles are determined using laboratory energy‐dispersive X‐ray diffraction (EDXRD). The EDXRD results do not reveal any notable difference between the conditions at a depth of 350 μm, suggesting that the machining process yields a comparable residual stress state in the near‐surface regions. On the other hand, the SXRD results show that HT1 is more effective in relieving the bulk RS. It is observed that HT1 reduces the RS state in both the aluminium matrix and the silicon network. In addtion, HT2 does not have a significant impact on relaxing the RS as‐built state of the matrix, although it does induce a reduction in the RS magnitudes of the Si phase. It is concluded that the heat treatment stress relieving is effective as long as the Si‐network is not disaggregated.zeige mehrzeige weniger

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Autor*innen:Ilaria Roveda, Tatiana Mishurova, Alexander Evans, Andrew N. Fitch, Jan Haubrich, Guillermo Requena, Giovanni Bruno, Itziar Serrano‐MunozORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Strain
Jahr der Erstveröffentlichung:2024
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:John Wiley & Sons Ltd.
Aufsatznummer:e12475
Erste Seite:1
Letzte Seite:13
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Interphase residual stress; Laboratory energy-dispersive X-ray diffraction (EDXRD); PBFLB/M AlSi10Mg alloy; Stress-relief heat-treatments; Synchrotron X-ray diffraction (SXRD)
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Additive Fertigung
DOI:10.1111/str.12475
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-597591
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:27.03.2024
Referierte Publikation:Nein
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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