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EBSD Kikuchi Pattern Analysis, Silicon 15kV
- Supplementary data and images for Si EBSD pattern analysis as presented in: A. Winkelmann, T.B. Britton, G. Nolze "Constraints on the effective electron energy spectrum in backscatter Kikuchi diffraction", Physical Review B (2019).
Autor*innen: | A. Winkelmann, T. B. Britton, Gert Nolze |
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Dokumenttyp: | Forschungsdatensatz |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Organisationseinheit der BAM: | 5 Werkstofftechnik |
5 Werkstofftechnik / 5.1 Mikrostruktur Design und Degradation | |
Herausgeber (Institution): | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
Verlag: | Zenodo |
Verlagsort: | Geneva |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | EBSD; Electron energy; Energy distribution; Kikuchi pattern; Simulation |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Art der Ressource: | Datensatz |
DOI: | 10.5281/zenodo.2565061 |
Zugehöriger Identifikator: | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/47635 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access") |
Lizenz (Deutsch): | Creative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International |
Datum der Freischaltung: | 21.12.2020 |
Referierte Publikation: | Nein |
Schriftenreihen ohne Nummerierung: | Forschungsdatensätze der BAM |