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EBSD Kikuchi Pattern Analysis, Silicon 15kV

  • Supplementary data and images for Si EBSD pattern analysis as presented in: A. Winkelmann, T.B. Britton, G. Nolze "Constraints on the effective electron energy spectrum in backscatter Kikuchi diffraction", Physical Review B (2019).

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Metadaten
Autoren/innen:A. Winkelmann, T. B. Britton, Gert Nolze
Dokumenttyp:Forschungsdatensatz
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Herausgeber (Institution):Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:Zenodo
Verlagsort:Geneva
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:EBSD; Electron energy; Energy distribution; Kikuchi pattern; Simulation
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Materialien und Stoffe
Art der Ressource:Datensatz
DOI:https://doi.org/10.5281/zenodo.2565061
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/47635
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:21.12.2020
Referierte Publikation:Nein
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Forschungsdatensätze der BAM