Morphology Analysis of Graphene Oxide Flakes with SEM - Preparation of an Inter-Laboratory Comparison @VAMAS
- Experience gained at BAM within the European project ISGScope on the accurate measureemnt of graphene oxide flakes by electron microscopy is presented. Particularly, factors such as the type of solvent, substrate temperature, but also proper, gentle measurement parameters and image analysis conditions towards automation are highlighted. The measurement procedures in develeopment are being prepared to launch an inter-laboratory comparison under VAMAS (TWA41) as preparatory guidance for future standardisation at ISO.
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Weitere Person: | Giovanni Chemello, Jörg RadnikORCiD |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2022 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Graphene oxide flakes; ISOGScope; Morphology; SEM; Sample preparation; Standardisation; VAMAS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | ISO/TC 229 Nanotechnologies Plenary Meeting - Graphene Standardisation |
Veranstaltungsort: | Teddington, UK |
Beginndatum der Veranstaltung: | 14.11.2022 |
Enddatum der Veranstaltung: | 18.11.2022 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 17.11.2022 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |