Liaison of ISO/TC 202 Microbeam Analysis with VAMAS/TWA 37 Quantitative Microstructural Analysis
- The progress in activities on Microbeam Analysis under VAMAS/TWA 37 is reviewed. Particularly the liaison with the new projects within the ISO technical committee TC 202 is presented and discussed with respect to the identification and launching corresponding VAMAS projects. The ongoing project "FIB sample processing for TEM" is presented in detail.
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2023 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Electron microscopy; FIB; ISO/TC 202; Microbeam Analysis; Standardisation; VAMAS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | 30th Meeting of ISO/TC 202 Microbeam Analysis |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 22.11.2023 |
Enddatum der Veranstaltung: | 24.11.2023 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 04.12.2023 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |