Surface Analysis and Context of the New HAXPES@BAM
- The Competence Centre nano@BAM is presenting a new X-ray Photoelectron Spectrometer – the HAXPES (XPS at hard energy) – for researching advanced materials at the nanoscale. With HAXPES detailed chemical information can now be gained not only from the first outermost nanometres of the sample surface, but also from deeper regions. Top international experts will share their knowledge and key findings on how to utilise HAXPES for exploring the surface of various advanced materials. Following the lectures, we will show you a short demo of the new instrument and answer your questions.
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Jörg RadnikORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2022 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | HAXPES; Nano@BAM; Surface Analysis; XPS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | Inauguration of the HAXPES@BAM - A new Hard-X-Ray Photoelectron Spectrometer |
Veranstaltungsort: | Online meeting |
Beginndatum der Veranstaltung: | 25.01.2022 |
Enddatum der Veranstaltung: | 25.01.20222 |
URL: | https://www.bam.de/Content/EN/Events/2022/2022-01-25-hapex.html |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 21.02.2022 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |