(hard) x ray photoelectron spectroscopy as tool in nano-analytics
- Selected samples are used to show, that photoelectron spectroscopy is an important tool for measuring nano-objects, especially for determing the chemical composition and structure on the nanosacle. XPS with different energies offers new possibilities in depth-profiling.
Autor*innen: | Jörg RadnikORCiD |
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Koautor*innen: | Jörg Manfred Stockmann, Xenia KniggeORCiD, Giovanni Chemello, Vasile-Dan Hodoroaba, Ute Resch-Genger, S. Madkour, Andreas Schönhals, B. Reed, C. Clifford, A. Shard |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2024 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Core-shell nanoparticle; Graphene related 2D materials; X-ray photoelectron spectroscopy |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | SFB 1073 Colloquium |
Veranstaltungsort: | Göttingen, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 22.02.2024 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 04.03.2024 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Ja |