ELENA Project: Creating a simplified uncertainty calculation for industrial applications
- In this workpackage of the ELENA project, we develop a way to express the measurement uncertainty of nanoscale determination of electrical propserties. The method developed aims to be usable for industrial contexts and described in technical documents and standards drafts. Standards and reference samples are used to make traceable measurements available for the end user.
Autor*innen: | Andreas HertwigORCiD, P. FrançoisORCiD |
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Koautor*innen: | J. Hoffmann, K. Kaja, N. Fabricius, Elena Ermilova, René Sachse, B. Gautier |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2023 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Electrical properties; Nanoscale measurements; Optical measurements; Scanning probe measurements; Surfaces |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | Congrès International de Metrologie |
Veranstaltungsort: | Lyon, France |
Beginndatum der Veranstaltung: | 06.03.2023 |
Enddatum der Veranstaltung: | 10.03.2023 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 16.03.2023 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |