Moderne Methoden der CT-gestützten Strukturanalyse
Modern techniques of CT based structure analysis
- Durch den großflächigen Einsatz der Computertomographie (CT) in unterschiedlichen Industriebereichen steigen auch die Anforderungen an die quantitative Bildanalyse. Subjektive Bildwahrnehmung muss durch objektive Algorithmen ersetzt werden. In diesem Artikel stellt die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), die seit den 1980er Jahren an der Entwicklung der industriellen CT beteiligt ist, anhand ausgewählter Beispiele den aktuellen Stand ihrer Analysemethoden an verschiedenen Anwendungsbeispielen der CT vor.
- The increasing use of computed tomography (CT) in various industrial sectors requires more sophisticated techniques of quantitative image analysis. Subjective image perception needs to be replaced by objective algorithms. The German Federal Institute for Materials Research and Testing (BAM) has been involved in the development of industrial CT since the 1980s. This paper summarizes the current status of quantitative 3D image analysis techniques based on selected examples.
Autor*innen: | Alexander Ulbricht, Christian Gollwitzer, Andreas KupschORCiD, Fabien LéonardORCiD, Bernd R. MüllerORCiD, Tyler OeschORCiD, Yener Onel, Tobias Thiede, Uwe ZscherpelORCiD |
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Persönliche Herausgeber*innen: | F. Puente León, B. Zagar |
Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | tm - Technisches Messen |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2020 |
Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere | |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.2 Zerstörungsfreie Prüfmethoden für das Bauwesen | |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung | |
Verlag: | de Gruyter |
Verlagsort: | Berlin |
Jahrgang/Band: | 87 |
Ausgabe/Heft: | 2 |
Erste Seite: | 81 |
Letzte Seite: | 91 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Computertomographie; Damage analysis; Normung; Röntgen-Refraktion; Schadensanalyse Computed tomography; X-Ray refraction; standardization |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Material / Degradation von Werkstoffen | |
DOI: | 10.1515/teme-2019-0125 |
ISSN: | 0171-8096 |
ISSN: | 2196-7113 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 06.02.2020 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 02.03.2020 |