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Application of contact-resonance AFM methods to polymer samples
- Contact-resonance AFM (CR-AFM) has been used in recent years for the measurement of mechanical properties. Compared with other techniques, CR-AFM has a much shorter acquisition time, compensating the incomplete theoretical understanding of the underlying physical phenomena. In the present paper, we propose a procedure, which allows to determine the elastic modulus of the sample as a parameter of the fit of the CR frequency as a function of the load. It is concluded that CR measurements are not appropriate for polymer samples. Major drawbacks are the bad resolution for moduli lower than ca. 10 GPa and the lack of a comprehensive physical model.
Autor*innen: | Sebastian FriedrichORCiD, Brunero CappellaORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Beilstein Journal of Nanotechnology |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2020 |
Organisationseinheit der BAM: | 9 Komponentensicherheit |
9 Komponentensicherheit / 9.5 Tribologie und Verschleißschutz | |
Veröffentlichende Institution: | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
Jahrgang/Band: | 11 |
Erste Seite: | 1714 |
Letzte Seite: | 1727 |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Atomic force microscopy; Contact resonance; Mechanical properties; Polymers; Wear |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
DOI: | 10.3762/bjnano.11.154 |
URN: | urn:nbn:de:kobv:b43-515621 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access") |
Lizenz (Deutsch): | Creative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International |
Datum der Freischaltung: | 16.11.2020 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 26.11.2020 |
Schriftenreihen ohne Nummerierung: | Wissenschaftliche Artikel der BAM |