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Ultrafast lattice response of photoexcited thin films studied by X-ray diffraction
- Using ultrafast X-ray diffraction, we study the coherent picosecond lattice dynamics of photoexcited thin films in the two limiting cases, where the photoinduced stress profile decays on a length scale larger and smaller than the film thickness. We solve a unifying analytical model of the strain propagation for acoustic impedance-matched opaque films on a semi-infinite transparent substrate, showing that the lattice dynamics essentially depend on two parameters: One for the spatial profile and one for the amplitude of the strain. We illustrate the results by comparison with high-quality ultrafast X-ray diffraction data of SrRuO3 films on SrTiO3 substrates.
Autor*innen: | D. Schick, M. Herzog, A. Bojahr, W. Leitenberger, Andreas HertwigORCiD, R. Shayduk, M. Bargheer |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Structural dynamics |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2014 |
Veröffentlichende Institution: | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
Verlag: | AIP Publishing LLC |
Verlagsort: | Melville, NY |
Jahrgang/Band: | 1 |
Ausgabe/Heft: | 6 |
Erste Seite: | 064501-1 - 064501-13 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Dünnschichttechnik; Ellipsometrie; Festkörperphysik; Optische Konstanten; Röntgenbeugung |
DOI: | 10.1063/1.4901228 |
URN: | urn:nbn:de:kobv:b43-322471 |
ISSN: | 2329-7778 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access") |
Lizenz (Deutsch): | Creative Commons - Namensnennung |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Schriftenreihen ohne Nummerierung: | Wissenschaftliche Artikel der BAM |