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Application of contact-resonance AFM methods to polymer samples

  • Contact-resonance AFM (CR-AFM) has been used in recent years for the measurement of mechanical properties. Compared with other techniques, CR-AFM has a much shorter acquisition time, compensating the incomplete theoretical understanding of the underlying physical phenomena. In the present paper, we propose a procedure, which allows to determine the elastic modulus of the sample as a parameter of the fit of the CR frequency as a function of the load. It is concluded that CR measurements are not appropriate for polymer samples. Major drawbacks are the bad resolution for moduli lower than ca. 10 GPa and the lack of a comprehensive physical model.

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Metadaten
Autoren/innen:Sebastian Friedrich, Brunero Cappella
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Beilstein Journal of Nanotechnology
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:9 Komponentensicherheit
9 Komponentensicherheit / 9.5 Makro-Tribologie und Verschleißschutz
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Jahrgang/Band:11
Erste Seite:1714
Letzte Seite:1727
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Atomic force microscopy; Contact resonance; Mechanical properties; Polymers; Wear
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nanoskalige Materialien und deren Eigenschaften
DOI:https://doi.org/10.3762/bjnano.11.154
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-515621
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:16.11.2020
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:26.11.2020
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM