Scanning Force Microscopy based Lithography
Autor*innen: | Heinz SturmORCiD |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Anwendertreffen JPK Instruments |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
Veranstaltung: | Anwendertreffen JPK Instruments |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2003-09-18 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |