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Development of reference materials for surface technology in the micrometer and nanometer range

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Autor*innen:Wolfgang Paatsch, Uwe Beck, Mathias Senoner
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):AESF SUR/FIN 2004 & Interfinish 2004 World Congress
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Verlag:American Electroplaters and Surface Finishers Society (AESF)
Verlagsort:Orlando
Erste Seite:369
Letzte Seite:385
Freie Schlagwörter:Reference materials; Referenzmaterialien; Zerstörungsfreie Prüfung
Veranstaltung:AESF SUR/FIN 2004 ; Interfinish 2004 World Congress
Veranstaltungsort:Chicago, IL, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2004-06-28
Enddatum der Veranstaltung:2004-07-01
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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