Advanced light element and low energy X-ray analysis of a TiB2 – TiC – SiC ceramic material using EDS spectrum imaging
- The accurate EDS microanalysis of light elements such as boron and carbon by spectrum imaging will be demonstrated using a sintered hard ceramic material composed of the three major phases titanium boride (TiB2), titanium carbide (TiC), silicon carbide (SiC) and minor phases, sub-μm in size. The combination of these three materials leads to improved mechanical and tribological properties. Silicon carbide is a material used for mechanical seals. It has the disadvantage of reduced failsafe running functions, causing increased wear when running dry. The added titanium components (TiC and TiB2) improve the failsafe running functions. This technology has already been transferred to industrial applications.
Autor*innen: | T. Salge, Rolf WäscheORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
---|---|
Dokumenttyp: | Sonstiges |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
9 Komponentensicherheit | |
9 Komponentensicherheit / 9.5 Tribologie und Verschleißschutz | |
Herausgeber (Institution): | Bruker Nano GmbH |
Verlagsort: | Berlin |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 5 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Ceramic; EDS; Light elements; Phase analysis; Spectrum imaging |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
URL: | https://www.bruker.com/fileadmin/user_upload/8-PDF-Docs/X-rayDiffraction_ElementalAnalysis/Microanalysis_EBSD/LabReports/App_eds_10_LE_keramik_Rev1_1_lores.pdf |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 05.04.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |