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Hard X-ray spectroscopy and imaging at the BAMline and MySpot beamlines at BESSY II (Berlin, Germany)

  • Overview of the X-ray based analytical methods conducted at the BAMline and µSpot Beamline for structure analysis.

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Metadaten
Autoren/innen:Ana Guilherme Buzanich
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien
1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien / 1.3 Strukturanalytik
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Beamline; Material characterization; Synchrotron; X-ray spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Materialien und Stoffe
Analytical Sciences
Analytical Sciences / Spurenanalytik und chemische Zusammensetzung
Veranstaltung:Pccr2 + AfLS conference
Veranstaltungsort:Accra, Ghana
Beginndatum der Veranstaltung:29.01.2019
Enddatum der Veranstaltung:02.02.2019
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:06.02.2019
Referierte Publikation:Nein