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Structure analytics with Hard X-rays at the BAMline and µSpot beamlines

  • An overview of the research areas at the structure analysis division is given. Specifically the in situ characterization of dynamic processes with hard X-ray diffraction and absorption spectroscopy at the BAMline and µSpot beamlines (BESSY-II).

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Metadaten
Autoren/innen:Ana Guilherme Buzanich
Koautoren/innen:Franziska Emmerling
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien
1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien / 1.3 Strukturanalytik
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Beamline; Material characterization; Structure analysis; Synchrotron; X-ray Spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Analytical Sciences / Strukturanalytik und Materialographie
Veranstaltung:BAM-IFW Workshop
Veranstaltungsort:Dresden, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:28.03.2019
Enddatum der Veranstaltung:29.03.2019
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:01.04.2019
Referierte Publikation:Nein